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日立分析仪器X-Strata920 高精度台式 XRF 镀层测厚仪

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日立分析仪器X-Strata920 高精度台式 XRF 镀层测厚仪

X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 镀层测厚仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层，适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析。

日立分析仪器FT230台式XRF分析仪

FT230 旨在简化和加速零件和组件的测试，从而更轻松地在更短的时间内测量更多零件。 FT230 具有 Find My Part™ （查找我的样品）智能识别、自动样品聚焦和广角摄像头等功能，可减少设置时间和用户失误操作，从而提高通量和生产力。让您的 XRF 设备帮您做决定。

日立X射线荧光镀层厚度测量仪-FT110A

FT110A 是一款台式 XRF 镀层测厚仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。

日立分析仪器FT160 台式 XRF 镀层测厚仪

FT160 台式 XRF 镀层测厚仪，旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。

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