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OE720火花光谱仪适用于铝分析

因为铝能与许多材料形成合金,因此被用于许多不同的行业,如建筑、交通运输和食品。多功能性和轻质性使得铝及其合金特别适用于重视轻量化的行业,如汽车和航空航天。

然而制造铝铸件的过程十分困难。若想要让最终的材料具备所需的性能,则必须注意控制熔体中的元素。最有效的熔体控制方法是使用直读光谱仪(OES)进行分析。然而,并非所有的直读光谱仪都具有相同的性能,必须格外注意铝,因为某些分析仪可能检测不出一些必须被控制在极低限值的元素。

日立推出的新型OE720火花光谱仪旨在以吸引人的价格提供高性能。这意味着对于通常需要专业仪器才能检测的元素,如磷和锑,可以通过OE720在低检出限下对其进行检测。


OE720低检出限对于铝熔炼控制非常重要

OE720光谱仪新设计的光学系统提供了更高级别的光学分辨率,CMOS检测器技术可确保在极低检出限下检测多种元素。这意味着,可以在近共晶和过共晶铝硅合金中检测出含量低至20ppm的磷,并且可以控制锑、铋、锂、锶和钠的含量,以确保最佳的结构改进。

这一高性能功能使用户能够验证铝熔体中的杂质元素磷、钙、铋和锑是否符合120ppm的最大总量。

下表显示OE720在关键铝元素上的性能:

OE720 limits of detection for key aluminium elements


应用报告:OE系列满足高要求的铝分析

提高OE720性能的技术特性

OE系列有两种型号,分别是OE720和OE750。两者都能在整个金属元素谱中提供高性能。OE720将检测熔体中的所有非气态元素,OE750增加了气体元素检测功能,铝分析则不需要这一功能。

这两种型号都受益于这些创新:

  • 由于波长范围为174-670nm(OE720)和119-670nm(OE750),因此能够检测多种元素。此外,这两种型号均可根据要求将波长范围延伸至766nm。
  • 完全重新设计的光学系统和最先进的CMOS检测器设计可在整个波长范围内提供极高的光学分辨率,从而提高仪器的检出限功能。
  • 密封火花台设计和中压力系统具有出色的稳定性和洁净度,能减少必要的维护周期,增加分析仪的正常运行时间。
  • 中压力系统和新的火花台设计能减少所需的氩气量,并将功耗降低一半。这些改进措施有助于降低运营成本,对于全天候使用仪器具有重大意义。

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