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日立全自动型原子力显微镜-AFM5500M

日立全自动型原子力显微镜-AFM5500M

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产品详情

特点

1. 自动化功能

  • 高度集成自动化功能追求高效率检测
  • 降低检测中的人为操作误差


4英寸自动马达台

4英寸自动马达台



自动更换悬臂功能

自动更换悬臂功能


2. 可靠性

排除机械原因造成的误差

  • 大范围水平扫描
    采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
    AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。

Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate

Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate

  • 高精角度测量
    普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
    AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。

Textured-structure solar battery

Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)

*使用AFM5100N(开环控制)时

3. 融合性

亲密融合其他检测分析方式

通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察・分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。

Correlative AFM and SEM Imaging

SEM-AFM在同一视野观察实例(样品:石墨烯/SiO2)

The ovrlay images createed

The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.

上图是AFM5500M拍摄的形状像(AFM像)和电位像(KFM像)分别和SEM图像叠加的应用数据。

  • 通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。
  • 石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。
  • SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。


今后计划与其他显微镜以及分析仪器的联用。


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